Revision von Modulen

Hallo Michael,

ein Fachmann, der in der Elkofertigung oder Entwicklung tätig ist, könnte Deine Frage sicher leicht beantworten. Wie Du, kann ich nur die Informationen aufnehmen, die öffentlich und leicht zugänglich sind und sie mit den Beobachtungen von uns zusammenbringen.

Was Du schreibst, macht jedenfalls Sinn. Elkos mit höherer Spannungsfestigkeit haben ein dickeres Aluminiumoxid-Dielektrikum. Allerdings sollten sie m.E. nicht mit zu wenig Vorspannung betrieben werden, da sie sich sonst nicht ausreichend re-formieren. Ich würde also keinen Elko mit 100V oder 200V Spannungsfestigkeit nehmen, wenn dort nur z.B. 2 V Vorspannung anliegen. Grundsätzlich halte ich es aber selbst auch wie Du, bei Ersatz gehe ich immer eine oder zwei Spannungsstufen höher, zumal die Baugrössen heute ja kleiner sind.

Ob die Elkos auf dem Motherboard überfordert waren, kann ich nicht sagen. Sie waren von Nichicon ja extra für hohe Ripplebelastung empfohlen. Die geringen Abmessungen sind ja das grundsätzliche Problem, weil auf den Boards zu wenig Platz ist. Ich nehme mal an, diese Elkos wurden ggf. mit 5V belastet. Bei der kleinen Baugrösse ist aber nur die 6,3V Klasse möglich, oder es müssen Spezialformen sein, dünn und lang, die man ja auch oft findet und für die es meist schwer ist, Ersatz zu finden.

Den Punkt, den ich machen wollte war dieser:
Gelegentlich wird oder wurde behauptet, dass Elkos bei Alterung ihre Kapazität nicht vergrössern. Diese Aussage kommt selbst von Fachleuten und entspringt sicher ihrer gesamten Erfahrung. Dennoch ist fraglich, ob diese Aussage angesichts der hier gezeigten Werte pauschal gültig ist. Wenn nun noch die Frage im Raum steht, ob es sich nicht doch um ein Artefakt der Messmethode handeln könnte, ich kann das nicht vollständig ausschliessen, bin ich gerne bereit, einen dieser Elkos an jemanden zu verschicken, der die Kapazität zusätzlich mit der Schwingkreis-Methode misst, ggf. analog zum KARU, oder anderen Methoden (zum Beispiel: http://pp.physik.uni-erlangen.de/groups/ws0506/ppg10/protokolle/protokoll_kapazitaet.pdf ).

Gruss,
Reinhard

Hallo Michael,

hier eine systematische Untersuchung der Alterung von Elektrolytkondensatoren in Schaltnetzteilen - also unter Einfluss von hohem Ripple.

https://www.phmsociety.org/sites/phmsociety.org/files/phm_submission/2010/phmc_10_030.pdf

Es wird eine Abnahme der Kapazität und Zunahme des ESR beobachtet. Keine Spur von Kapazitätszunahme. Die Untersuchung beinhaltet aber nicht systematisch den Einfluss von hoher Temperatur - obwohl mit dem Ripple natürlich auch innere Erwärmung verbunden ist.

Frühere Untersuchungen werden bestätigt:
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00141553/document

Kapazitätszunahme bei Alterung ist demnach offiziell unbekannt. Demzufolge bleibt die Frage interessant, ob die "Kapazitätszunahme", dich ich mit meinen Messgeräten an den genannten Elkos beobachte, ein Messartefakt ist. Dies könnte beispielsweise bei Kapazitätsmessung anhand der Ladezeit der Fall sein, wenn aufgrund eines zu hohen Leckstroms die Ladezeit verlängert ist. Demnach müssten alle drei meiner Messgeräte die Ladezeitmethode benutzen. Sicher weiss ich das nur von einem (Komponententester, Atmega Chip).

Gruss,
Reinhard

Hallo Michael,

wenn ich ältere ATX Netzteile für den Eigenbedarf überhole und dort die Sekundärelkos ersetze, messe ich im Anschluss immer alle alten Elkos nach.
Gute Hersteller / Serien haben dann noch knapp den Nennwert, Billigmodelle oft starke Kapazitätsverluste + erhöhte ESR.
Erhöhte Kapazitäten habe ich noch nie ermittelt, wobei die Ripplebelastung bei der Sekundärsiebung vergleichbar sein dürfte mit der bei Step-Down Schaltreglern in der Vcore-Erzeugung bei Mainboards.

Nichicon HM verwende ich gerne als Ersatz, da es sich um zuverlässige Low-ESR Typen handelt. Bislang konnte ich keine Probleme beobachten.

Meine Vermutung ist, dass das vorliegende Exemplar tatsächlich einen Defekt hat, der das zu hohe Messergebnis verursacht.
Schwankende Restströme oder 50mA Reststrom bei 5V wären für mich auch immer ein sicheres Indiz für 'defekt'.
Was sich letztlich in einem solchen Kondensator mit all seinen Chemikalien und Prozessen abspielt, ist natürlich schwer nachvollziehbar. Produktionsfehler bei den Folien, Verunreinigungen der Elektrolytlösung oder eine mangelhafte Ausbildung der Oxidschicht sind nur Beispiele.

Auf Mainboards haben Elkos in den Step-Down Reglern zudem eine massive Hitzebelastung, da sie über die Kupferfolien der Platine von den unmittelbar neben ihnen liegenden - und über diese Folien gekühlten - MOSFETS aufgeheizt werden. Kommen nicht spezifikationsgerechte CPU-Lüfter zum Einsatz, kann die Kühlung durch den Luftstrom ungenügend sein, was die Lebensdauer der Elkos verkürzt.

Hallo Michael, Achim,

es handelte sich nicht um nur einen Elko, der dies Fehlerbild hat, alle vier, die ich aus dem Mainboard ausgebaut habe, hatten das gleiche. Alle haben scheinbar Kapazitätzzunahme von nominal 1000 µF auf 1600 bis über 2000 µF. Alle haben einen etwas erhöhten Leckstrom und praktisch jungfräulich niedrige Impedanz (ESR).

Danke Michael, dass Du mit Deinem Peaktech meine Ergebnisse bestätigen konntest. Weisst Du, wie Dein Peaktech die Kapazität misst, auch mit Ladezeitmethode? Wie ich vermute, ist die scheinbar erhöhte Kapazität ein Artefakt dieser Messmethode. Dein Kontakt kann hoffentlich "besser" messen, heisst mit Schwingkreis und Brückenschaltung. Damit sollte sich dann die wahre Kapazität zeigen. Ich bin gespannt.


Achim,
ich teile Deine Beobachtungen, dass bei Alterung ESR zunimmt und Kapazität abnimmt und beides ist in Übreeinstimmung mit der Literatur und "allgemeiner Erfahrung". Gerade weil es bei diesen Elkos anders scheint (ich formuliere schon bewusst vorsichtig), bin ich aufmerksam geworden.

Gruss,
Reinhard

Hallo Michael,

ja, mit Ladezeitmethode über 2000 µF passt. Das hatte ich ja auch:

Serie HM(M), 1000 µF / 6,3V, 105°C, low-ESR
aus PC Motherboard

Bei mir gemessen:
HoldPeak HP-36D Kapazitätsmesser: 2150 µF
AVR/Atmega Transistor-/Komponententester: 2152 µF, ESR 0,05 Ohm, Vloss 3,6%

UNI-T UT71D Multimeter: 2155 µF, während der Messung mit jedem Messpuls kontinuierlich fallend (Formierung?) bis 2111 µF innerhalb einiger Minuten.

ELV ESR1 Messgerät: Impedanz 0,01 Ohm bei 67 kHz (da muss ich mal die Kalibrierung nachprüfen, Du hattest ja mit dem Peaktech 2170 0,05 Ohm, wie ich mit dem AVR).


Zu Deinem Peaktech 2170. Da Du damit ja auch Güte und Verlustwinkel misst, kann es m.E. nicht die Ladezeitmethode verwenden, sondern macht wahrscheinlich eine "ordentliche" Brückenmessung (Schwingkreis). Die damit erhaltene etwas geringere (aber immer noch gegenüber dem Nominalwert weit erhöhte) Kapazität ist auch eine Indikation. Wenn das so ist, gehen also "nur" 300 µF der mit Ladezeitmethode ermittelten Kapazität zulasten von Leckstrom. Das könnte bedeuten, die Kapazität ist tatsächlich als Folge einer dünneren (teilabgebauten) Dielektrikumsdicke angestiegen. Ggf. hat sich der ohnehin wahscheinlich wasserhaltige Elektrolyt (low-ESR Typ!) durch Alterung und Belastung so verändert, dass er dem Alox-Dielektrikum nicht guttut.

Warten wir mal, zu welcher Diagnose Dein Bekannter kommt.

Jedenfalls ist Dein Peaktech 2170 ja ein Messgerät, das in der Oberliga spielt. Meine sind da im Vergleich ja allenfalls "Dorfliga".

Gruss,
Reinhard

Hallo Michael,

sehr schönes Ergebnis! So passt die Welt wieder.

Mit anderen Worten: Bei Isolationsfehler (Leckstrom) misst man Mist, wenn man keine wirkliche Kapazitätsmessbrücke benutzt.

Was man auch daraus lernt: Die Aussage "Kapazität ist noch gut, sogar "30% (oder was auch immer)" über Nennwert, sollte man nicht unbedingt für bare Münze nehmen, wenn mit Ladezeitmethode gemessen (die meisten Multimeter) und man sich nicht gleichzeitig vergewissert hat, dass der Leckstrom innerhalb der Nenntoleranz ist.

Und ausserdem: Kondensatoren, die deutlich scheinbar zu grosse Kapazität (Ladezeitmethode) anzeigen sind reif für den Elektronikschrott und nicht etwa "gut".

Das Thema hatten wir hier im Forum ja schon mal (oder zweimal?). Die Bedeutung der Messmethode und der Isolationswiderstand waren auch damals unterstrichen worden. Allerdings waren seinerzeit keine Elkos mit scheinbar stark erhöhter Kapazität auf dem Seziertisch und damals waren es kleinere Kapazitäten.

Je nach Hersteller und Bauserie unterscheiden sich die Alterungsprozesse offensichtlich. Hier im Foto






links:
Nippon Chemi-Con, Serie KZG, nominell 3300 µF/6,3V, 105°C; Der Elko ist bereits durch Innendruck gebläht (Oberfläche an Sollbruchstelle gewölbt), also kurz vor dem Aufplatzen

gemessen (Ladezeitmethode): scheinbar 4300 µF (scheinbar 30% erhöht), ESR: 400 mOhm (sehr stark erhöht), Vloss 15% (dramatisch erhöht).



rechts:
Nichicon, Serie HM(M), nominell 3300µF/6,3V, 105°C; der Elko ist äusserlich ganz unauffällig, nicht gebläht, kein Elektrolyt ausgetreten. Man käme nach äusserlichem Eindruck nicht ohne weiteres auf die Idee, dass er defekt sein könnte

gemessen (Ladezeitmethode): scheinbar 5400 µF (scheinbar 64% erhöht), ESR: 10 mOhm (scheinbar sehr niedrig), Vloss 3,8% (merklich aber nicht extrem erhöht).

In diesem Fall wird offenbar ESR und Kapazität falsch gemessen, ESR zu niedrig (Impedanzmessung) und Kapazität zu hoch (Ladezeitmethode).


Fazit:
scheinbar "Erhöhte Kapazität" --> defekt (Ladezeit verlängert wegen Leckstrom)
scheinbar ungewöhnlich "guter" (geringer) ESR --> defekt (Leckstrom überlagert)

Allerdings gilt nicht, dass je schlechter der Isolationswiderstand, um so grösser die scheinbare Kapazität (Ladezeitmethode). Man sieht es am unterschiedlichen Verhalten der beiden Beispiele von verschiedenen renommierten Elko-Herstellern.


Die schlechte Nachricht: Es braucht leider sehr teures Messequipment, um bei (teil-)defekten Elkos die Eigenschaften korrekt messen zu können, besonders bei grossen Kapazitäten.


Gruss,
Reinhard

Ich mische mich hier nur noch sehr ungerne ein. Sehr ungerne!
Aber es tut Not.

Es hört sich hier so an als hätte jemand jemals beheuptet, das defekte Elkos die zu hoch anzeigen nicht defekt wären.
Soweit ich mich erinnere wurde gesagt das nicht defekte und sogar neue Elkos einen Kapazitätstoleranzbereich von (früher) +100/-50% haben können, was für sich genommen kein Defektbeweis ist, und das man seinem Geld böse wäre einen nicht defekten Kondensator wegzuwerfen nur weil einem die Anzeige nicht munden möchte.
Eher würfe ich das besch.... Meßgerät weg das nicht alle Werte am Zaun hat.

Eineindeutige Beziehung zwischen Kapazitätsanzeige bei beliebigem Meßverfahren zu Kondensatordefekt ist folglich ebenso wenig bewiesen wie das Gegenteil (Nichtdefekt bei bestimmter Anzeige). So simpel tickt die Physik komplexer Bauelemente nicht.
Man kann den Defekt eines Autos auch nicht daran fest machen ob es rot oder grün lackiert ist. die Tacho-Endanzeige sagt auch nichts aus über die erreichbare Nominalgeschwindigkeit, bei meinem Käfer fing der Zeiger vorne wieder an, wenn er hinten rüber war, weil das Ding einen stärkeren Motor hatte als der vom Werk verbaute Tachometer wußte.
Wer mißt mißt Mist, wer wahllos mißt....

Schade, jetzt hatte ich eine sehr sehr lange und langwierige Antwort verfasst und das Forum hat sie abgeschossen statt abgeschickt.

Es wurde sich weiter oben auf gesammelte Voräußerungen bezogen die keineswegs die Richtigkeit der Schlüsse hier untermauern MÜSSEN, auch wenn das einfach wäre.
Ich bezweifle das man aus Schlußfolgerungen aus falschen Meßmethoden und windigen Meßergebnissen basierend auf Konsumer-Meßorgeln so weit gehen kann.

Stichpunkte:

Man korrigiere mich wenn ich das nicht richtig aufgenmommen habe, aber man mißt hier immer noch DC-Bauteile ohne DC und meint man würde irgendetwas Sinnvolles dabei ermitteln?

außerdem

ESR - können die Dinger nicht messen, sie suggerieren etwas und interpolieren sich dafür etwas zusammen das in Wahrheit auf der Gesamtimpedanz beruht. Das ist so falsch und an den Haaren herbei gezogen wie eine oszillometrische Blutdruckmessung. Wie man daraus auch noch den Schluß defekt-heile ziehen will ist mir rätselhaft.

ESR - ist außerdem eh irrelevant für alle Bereiche der Audioelektronik um die es hier definitionsgemäß immer geht.
El-Grundlagen: - Ein ganz kleiner in Serie zu einem ganz großen Widerstand hat zur Folge das der Kleine (hier ESR) keinerlei Wirkung hat bis auf Sonderfälle der Leistungs-Hochfrequenz-Elektronik wobei extreme innere möglichst nicht zu behindernde Umladungsvorgänge geht und die da doch etwas störenden inneren Widerstände zu überwinden sind spezifisch und nicht verallgemeinerbar ausnahmsweise zum Tragen kommen. Hätte er eine Auswirkung in der Kopplung so wäre die erwünscht und positiv, legen doch viele Entwickler bewußt und gewollt an (Koppel-)Elkos Serienwiderstände an.

Kapazitäsmessung an sich ist schon das ist nicht so einfach, zumal die Toleranzbereiche dazu nicht herangezogen werden können, da sie so sein dürfen wie sie sind. Man kann sich natürlich die Gesetze und Geltungsgrenzen, Toleranzen usw. der Elektrotechnik an den Hut stecken und ein eigenes Wertesystem definieren. Sinn??
Hier spiegelt das Ergebnis mehr die Meßmethode als den wirklichen Wert. Es gibt auch kein Einmethodengerät das alle Typen gleich richtig messen kann, egal was die Konsumer-Meßgeräte da versprechen.

Die Beobachtungen, Michael können richtig sein oder nicht, aber wie will man das beweisen wenn das gesamte Wertesystem schief hängt und nichtmal klar ist was bei welcher Messung überhaupt gemessen wurde. Es sind also alle Schlüsse aus Schlechtmeß ebenso nicht berauschend.
Man könnte folglich im gleichen Stil auch die Füsse in den Pudding halten und dann sagen "der schmeckt nicht" weil er an den Beinen kribbelt.
"Der Elko ist kaputt, weil ich nicht in der Lage bin ihn korrekt zu messen" wäre das Pendent.
Es wäre einfacher den Umkehrschluß zu ziehen, "der Elko ist solange gut bis er platzt" oder sich sonstwie harmloser unangenehm bemerkbar macht und damit im Konflikt zum Urzustand des Gerätes steht.

Es hilft nichts, alles bisher sind unzureichende Krücken. Alle Schlußfolgerungen beruhen auf Beobachtungen an falschen Meßgeräten unter mangelhaften Verfahren. So kommt man dem Problem nicht bei, so wirft man weiterhin bloß unnötig Bauelemente weg denen nichts vorzuwerfen ist im Rahmen ihrer Profile.


Ich bin gespannt wie es weitergeht...

Hallo Jogi, Michael,

in vielen Bereichen kann ich Euch beiden zustimmen, aber nicht in allen.

Michael fasste zusammen:"...wurde mal ein "Uebeltaeter" genauer vermessen, mit verschiedenen Messmethoden, und dabei deutet alles darauf hin, dass dort ein Fehler aus der Produktion vorliegt, weil es gleich eine ganze Reihe von solchen Elkos mit diesem "Fehler" (Anmerkung: scheinbar erhöhte Kapazität mit Ladezeitmethode gemessen) gibt".

Im Prinzip, ist es legitim, diese These aufzustellen. Ich interpretiere das aber anders. Ich habe deshalb weitere Beispiele gebracht (anderer Typ, andere Serie, usw.) mit dem gleichen Fehlerbild, auch von verschiedenen Herstellern. Das macht es wenig wahrscheinlich, dass ein Produktionsfehler vorlag.

Die Beobachtung war, dass die mit der Ladezeitmethode gemessene (scheinbare) Kapazität messbedingt (ungeeignetes Messverfahren aufgrund von Defekt des Elkos) fehlerhaft ist. Wir können vernünftigerweise auch davon ausgehen, dass die Elkos die Herstellerspezifikation von +/- 20% im Neuzustand sehr wahrscheinlich eingehalten haben (Jogi, ausdrücklich nicht +100%/-50% hatte ich doch deshalb extra die Spezifikation verlinkt: http://www.nichicon.co.jp/english/products/pdf/e-hm.pdf ). Insofern ist eine scheinbare Kapazitätszunahme von +100% oder +66% sehr signifikant. Ebenfalls hatte ich geschrieben, dass es sich nicht um neue oder neu formierte NOS-Ware handelt sondern um Siebkondensatoren aus einem Schaltnetzteil (Motherboard), wo bekanntermassen grosse Belastung durch Ripple auftritt, die Ursache der Veränderung.

Jogi, ich hatte die These in den Raum gestellt, dass eine Verringerung der Dicke des Dielektrikums zu einer Kapazitätserhöhung führen sollte und dass es diese These zu widerlegen gelte. DAS war der Sinn der vergleichenden Messungen.

Diese These ist weder neu noch habe ich sie erfunden. Sie wird auch in der Literatur bei Elkoversagen diskutiert:

http://www.dfrsolutions.com/pdfs/2004_Electrolyte_Hillman-Helmold.pdf

Es heisst dort:




Nun haben diese Messungen gezeigt, dass dies hier eindeutig nicht die Ursache ist, denn Messung mit der Brückenmethode konnte die mit der Ladezeitmethode gefundene Kapazitätszunahme NICHT bestätigen. Die Hypothese "Ursache ist ein durch Alterung bzw. vorschnelle Alterung aufgrund eines fehlerhaften Elektrolyten dünner gewordenes Dielektrikum" ist damit in diesem Fall widerlegt. Insofern war die Aufgabe damit abgeschlossen.



Dass es sich bei den Elkos um stark im Betrieb belastete Elkos handelte, die möglicherweise alterungsbedingte Defekte aufweisen, war von Beginn an klargestellt. Auch Elkos aus anderen Motherboards, verhalten sich so, wie die hier besprochenen.

Jogi hat im Prinzip recht, wenn er sagt, wir sollten alle unsere Messgeräte wegwerfen. Die (nicht ökonomische) Alternative sind dann aber nur noch Messgeräte, für die mehrere Tausend Euro fällig werden, "nur" um eine Kapazität zu messen. Denn, wie gezeigt, sind selbst LCR-Messgeräte für immerhin mehrere Hundert Euro, wie das von Michael, nicht in der Lage, die wirkliche Kapazität korrekt zu messen, wenn der Elko defekt ist. Das ist keine Frage der Qualität oder Genauigkeit der Geräte sondern der verwendeten Messmethode. Bei derselben Messmethode haben wir dieselben Ergebnisse mit unterschiedlichen Geräten, Michael und ich, was belegt, dass es die Messmethode und nicht die Varianz der Geräte ist, die den systematischen Fehler im Messwert verursacht.

Meiner Praxis, dass ich mich (nicht zuletzt auch aufgrund der hier gesammelten Ergebnisse) von Elkos trenne, die mit der Ladezeitmethode Kapazitätswerte aufweisen, die deutlich ausserhalb des vom Hersteller vorgegebenen Spezifikationsbereichs liegen, muss nicht jeder folgen. Neue oder relativ neue (NOS) Elkos haben mit meinen preiswerten Messgeräten immer Werte im Toleranzbereich, nur um hier Klarheit zu schaffen. Michael und ich sprechen hier also nicht von "lügenden Schätzeisen" sondern von methodischen Abweichungen und aufgrund von Bauteile-Verschleiss. Das hat nichts damit zu tun, dass mir ggf. ein Wert nicht passt, sondern dass meiner Meinung nach ein Defekt des Elkos ursächlich für Werte ausserhalb Toleranz ist.

Dass allein aufgrund weit ausserhalb der Toleranz gemessener Kapazität ein Defekt ja noch nicht hieb- und stichfest bewiesen ist, dem stimme ich zu, allerdings genügt mir dieses Indiz um das Stück zu ersetzen. Wenn mein 150 PS Auto bei Vollgas am Tacho nur 30 km/h zeigt und ich beim Fahren aus dem Fenster fast Blumen pflücken kann, nehme ich das auch als Indiz, dass es an der Leistung des Autos mangelt (was noch nichts darüber sagt, was genau die Ursache ist), um bei Jogis Beispiel zu bleiben (übrigens einen Defekt, den ich am Fahrzeug wirklich hatte - Turbolader-Unterdruckleitung war gerissen).

Zu ESR - können die Dinger nicht messen, völlig richtig, ich hatte ja bereits gesagt, dass "die Dinger" eine Impedanzmessung machen. DAS ist aber nicht der Punkt hier. Deutlich erhöhter ESR oder deutlich erhöhte Impedanz (ist egal) zeigt Elko-Verschleiss an. Da beisst keine Maus einen Faden ab, ist hinreichend nachgewiesen. Hier nochmal Literatur:

https://www.phmsociety.org/sites/phmsociety.org/files/phm_submission/2010/phmc_10_030.pdf

https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00141553/document










ESR bzw. Impedanz ist also ein Indikator für fortgeschrittenen Elko-Verschleiss. Auch verschlissene Elkos können im Audiobereich noch ihren Dienst tun und meist tun sie das auch (für begrenzte Zeit). Auch da kein Widerspruch. Nur nehme ich auch dies als Indiz für erkennbaren Verschleiss, das mir genügt, sie zu ersetzen. So wie mein Auto auch mit eingelaufenen Nockenwellen noch fuhr und sogar noch volle Leistung vorhanden war - ich habe sie trotzdem ersetzt, weil ich nicht plötzlich in einem Monat (?) oder einem Jahr (?) mit Motorschaden liegenbleiben wollte. Wer das Risiko eingehen will und die Warnzeichen ignorieren will, möge das machen, nach dem Motto (zitiere) "der Elko ist so lange gut bis er platzt oder sonst irgendwie total versagt". Er verlässt sich dann darauf, ja immer noch die Reparatur machen zu können, wenn der Fehler zum Versagen geführt hat.

Gruss,
Reinhard

Moin zusammen, der Walzer linksrum kann in die nächste Umdrehung gehen

Wir drehen uns leider im Kreise herum da bei aller Belegung von Partiellmodellen das Gesamtmodell aus dem Blick gerät.
Ich versuche mal nicht den ganzen Teppich wieder aufzurollen. Ws unter dem teppich landet lasse ich mal liegen.

Der Aussagewert des Wertes den man glaubt als ESR zu messen ist IMHO ! deshalb von nicht besonders hoher Relevanz für eine Zustandsbeschreibung des gesamten Kondensators, da er sich ändern kann über die Zeit, über die Umgebungstemperatur, über die Impedanz und die Kapazität. Hingegen ist die Wertediskrepanz von Typ zu Typ, von diversen Fertigungsfaktoren zu anderen Fertigungsfaktoren, sowie der Auslegung für Spannungsbereiche und für Kapazitätswerte, also unbedingt nötiger Unterschiede, schon deutlich höher als der gesamte evt. (aber nicht erwiesen) fehlerbedingte Schwankungsbereich. So läßt sich naturgemäß kein Ankerpunkt für den "richtigen" Wert und somit auch kein Fehlerkriterium festlegen. Es wäre so relevant wie das Stopfen einer Pfeife - oben eine Laus und unten eine Maus. Nominal- oder Idealwerte für bspw. Restströme aus dem Daenblatt kann man nach 2 Jahren Lagerung - und das ist nicht lange - allesamt vergessen. Sich trotzdem danach zu richten und sie zu fordern ist realitätsfern. Man muß Faktoren bedenken die die Hersteller kennen, wenn sie in den Applikationsanweisungen angeben das Elko-Schaltungen für allermindestens den 100...1000fachen Nonminalwert bei Normalfunktion, also nicht im worst-case Fall, auszulegen sind.

Der ESR-Wert macht lediglich aus wie hinderlich ein serieller Parasitärfaktor für den Ladestrom auf dem Weg zur angenommenen idealen Kapazität ist. Diese Hinderlichkeit bleibt oder ändert sich, aber nicht in Proportion zum Zustand der reinen Kapazität. Die Kapazität des AL-Elkos wird bestimmt von Oberfläche der Anodenfolie, Abstand der Anodenfolie, Art und Dicke des Isolators (ergibt sich zur Dielektrizitätskonstante). Änderst sich die Dielektrizitätskonstante so ändern sich Kapazität und Spannungsfestigkeit. Bis hierher ist der zu diesem Konstrukt seriell liegende Reihenwiderstand noch nicht in Erscheinung getreten. Die reziproke Leitfähigkeit der Anschlüsse und der Kontaktierungen von Drahtende bis zur Kathode hat mit der reinen Kapazität nämlich überhaupt nichts zu tun, die Kapazität entsteht direkt von Kathode zu Anode. Alles was bei Messungen als Änderung der Kapazität auftritt ist dem fehlerbehafteten Meßverfahren zuzuschreiben und nicht einer echten Änderung der realkondensator-immanenten kapazitiven Komponente.

Ergo. Die von mir auch schonmal angesprochenen sinnvollen Testmöglichkeiten eines Elkos durch Reparaturpersonal im Handwerk, Prüfpersonal in der Fabrik erschöpfen sich so dermaßen simpel und einfach das es kaum jemand wahr haben möchte und sich lieber ellenlange Hilfskonstrukte sucht. Es ist so einfach das es jede angelernte halbtags beschäftigte Prüffeldmitarbeiterin kann und auch die Springer augenblicklich einsteigen können.
Nur wir machen uns da den dicken Kopp und wollen es nicht sehen.

Es soll - das deute ich immer wieder an - ein jeder herummessen (nicht despektierlich gemeint, messen kann eine höchtst hoheitliche Angelegenheit sein) was und wie er will. Er muß aber einkalkulieren, das alle Messerei mit dem Modell steht und fällt, das beim Bauelement AL-Elko praktisch alle Werte höher fluktuieren als der evt. Fehler, das sogar die Zimmertemperatur (Dielektrikum, Elektrolyse, anodische Oxydation usw. sind von vielen Einflüssen abhängig, u.a. Temperatur und manche dieser Werte streben auch noch Extremen und Wendepunkten entgegen) wichtig ist und erst recht Dinge wie Meßspannung und Meßfrequenz. Von mir aus soll er auch versuchen den irrelevanten ESR zu ermessen usw.
Aber die reine klare Frage ob ein gepolter AL-Elko faul ist oder ob seinem Einsatz nichts im Wege steht, das läßt sich so unglaublich leicht feststellen das alles darüber hinaus Zeitverschwendung ist, wenn das Ziel nicht ein gänzlich anderes ist.

Ich glaube das reicht jetzt wieder an meiner aktiven Beteiligung hieran.
Werde aber vermutlich weiter mitlesen.

Ich denke es ist alles gesagt, mehrfach.

Gruss,
Reinhard